12 décembre 2025
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| Concept | Points Clés | Notes |
|---|---|---|
| Matériau amorphe | Pas d’ordre à longue portée, ordre local proche de celui des cristaux | Structure désordonnée, isotrope |
| Ordres spatiaux | Court (<3 Å), moyen (3-20 Å), long (périodicité) | Techniques : diffraction, NMR, EXAFS |
| Nucleation homogène | Formation aléatoire, W* = 16πγ²Vm/3ΔG | Dépend de ΔG, fluctuation thermique |
| Nucleation hétérogène | Facilités par défauts, réduction W* par f(θ) | Contact avec défauts ou surfaces |
| Croissance cristalline | U ≈ f a₀ ν e^{−ΔG’’/RT}, diffusion contrôlée | ΔG’ (thermo), ΔG’’ (diffusion) |
| Diagramme TTT | Temps pour cristalliser selon T, influence refroidissement | Limite critique pour amorphiser |
| Critère refroidissement | Vitesse > Vc pour éviter cristallisation | Dépend de composition, viscosité, ΔHf |
| Transition vitreuse | Cp change de pente, ΔTg, intervalle ΔTg | T dépend du taux de refroidissement |
| Relaxation structurale | Vieillissement, hystérésis thermique | Évolution lente vers état métastable |
| Composition et viscosité | Oxydes modifient la viscosité, favorisent la vitrification | Composition eutectique favorable |
Matériau amorphe
├─ Organisation à courte portée (distances <3 Å)
├─ Organisation à moyenne portée (3-20 Å)
└─ Absence d’ordre à longue portée
├─ Disordres topologiques et chimiques
└─ Techniques : diffraction, NMR, EXAFS
Fiche de révision
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| Élément | Nucleation homogène | Nucleation hétérogène |
|---|---|---|
| Définition | Formation aléatoire dans le volume liquide | Formation sur défauts ou surfaces |
| Énergie W* | W* = 16πγ²Vm/3ΔG | W* réduit par facteur f(θ) |
| Facteur de réduction | N/A | f(θ) < 1, dépend de la nature du défaut |
| Facilitation | Nécessite fluctuations thermiques | Facilitée par défauts, impuretés |
| Conditions favorables | Haute température, faible vitesse de refroidissement | Présence de défauts, surfaces, impuretés |
Matériau amorphe
├─ Organisation locale (court range <3 Å)
├─ Organisation moyenne (3-20 Å)
└─ Absence d’ordre à longue portée
├─ Disordres topologiques
├─ Disordres chimiques
└─ Techniques d’analyse : diffraction, NMR, EXAFS
Cette fiche synthétique doit permettre une révision efficace pour l’examen sur les matériaux amorphes, la vitrification, et la cristallisation.
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